GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
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时间:2024-05-17 02:51:58
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基本信息
| 标准名称： | 封装引线间电容和引线负载电容测试方法 |
| 英文名称： | The method measuring the lead-to-lead and loading capacitance of package leads |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合 |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1996-09-09 |
| 实施日期： | 1997-05-01 |
| 首发日期： | 1996-09-09 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海无线电七厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-10 |
| 页数： | 平装16开， 页数：5， 字数：5千字 |
| 书号： | 155066.1-13683 |
适用范围
本标准规定了半导体集成电路封装引线间电容和引线负载电容的测试方法。本标准适用于半导体集成电路陶瓷、金属、塑料封装引线间电容和引线负载电容测量。
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
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