【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology;contactlessdeterminationoftheelectricalresistivityofsemiconductorsliceswiththeeddycurrentmethod;homogeneouslydopedsemiconductorwafers
【原文标准名称】:半导体工艺材料检验.用涡流法无接触测定电阻率.均匀掺杂半导体片
【标准号】:DIN50445-1992
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1992-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:材料试验;电气试验;电阻;试验;定义;半导体工程;阻抗测量;测量;涡流法;阻抗;半导体器件;半导体片;半导体;半导体工艺;无损检验;校正;电学测量;涡流试验;材料
【英文主题词】:
【摘要】:Thestandarddefinesthetestmethodforthedeterminationofthespecificelectricalresistivityofhomogeneouslydopedsemiconductorwafers.
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语


【英文标准名称】:StandardTestMethodforDeterminationofCopperinUnalloyedCopperbyGravimetry
【原文标准名称】:用重量分析法测定非合金铜中铜含量的标准试验方法
【标准号】:ASTME53-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:铜;试验;金属;分析
【英文主题词】:Analysis;Copper;Metals;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:H13
【国际标准分类号】:77_040_30;77_120_30
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语